介电材料界面裂纹的边界元法分析
2014-08-08 11:02:34
作者:本站整理来源:=$docheckrep[1]?ReplaceBefrom($ecms_gr[befrom]):$ecms_gr[befrom]?>
王世博a,廉蒙蒙 b,范翠英a,赵明皞a,b
a郑州大学机械工程学院b郑州大学力学与工程科学学院
摘要:界面裂纹是断裂力学中的重要研究内容,特别是对于复合材料与结构。对于介电材料,由于电学性能,在界面裂纹表面会感生出感生电荷产生静电力,已有研究表明,裂纹上的静电力会对结构的断裂行为产生重要的影响。本文基于二维介电材料弹性理论,运用边界元方法研究静电力对介电材料界面裂纹的影响。首先运用子区域法,将含界面裂纹的双层介电材料划分三个区域(上层区域、下层区域和裂纹),通过边界条件和协调条件形成边界积分方程。然后运用迭代方法求解静电力与裂纹面上电场强度的非线性关系。最终数值模拟了裂纹表面的静电力、扩展位移及电势的分布规律,以及不同因素如裂纹形状、电压载荷等对介电材料界面裂纹断裂的影响。
关键词:介电材料,界面裂纹,静电力,边界元法,子区域法
联系方式
相关文章
无相关信息