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TEM、HRTEM、STEM——透射电子显微镜的三驾马车
2017-01-04 10:50:50 作者:本网整理 来源:研之成理

  几何任何与材料相关的领域都要用到透射电镜,而最常用的三大透射电镜是:普通透射电子显微镜(TEM)、高分辨透射电子显微镜(HRTEM)和扫描透射电子显微镜(STEM)。本期内容介绍三者的殊与同。重点解析在科研中如何适时的运用这三者?


  TEM:这里的TEM专指普通分辨率TEM。其主要用来观察材料的微观形貌和结构,比如催化剂粉末的轮廓外形,纳米粒子的尺寸和形貌。一般普通TEM的分辨率在几个纳米数量级。下图1(多相粉末催化剂)、图2(纳米晶)为典型普通TEM图形。

 

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  图1

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  图2


  电子与样品相互作用后,透射电子主要分为三大类:透射电子,弹性散射电子和非弹性散射电子。这三类电子各司其职,其中透射电子和弹性散射电子均可用于成像。通过调节电镜参数可以选择性收集成像电子,如图3所示。

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  图3


  如果只选择透射电子成像,那么可想而知,没有样品的地方,电子透过的最多,所以观察屏上最亮,样品越重越厚的地方、电子难以透过就越暗。这就是所谓的“明场像”,光路图如图3a所示。这种由于样品厚薄不均,质量不同而导致的明暗差异被称为“质厚衬度”,原理于图4所示。在明场模式下,整个视野内比较明亮,比较利于观察样品的大小、尺寸、形貌等信息,图1,2都为明场像。

 

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  图4


  既然有“明场像”,必然就有“暗场像”。所谓“暗场像”是指“收集”散射(衍射)电子成像。因为质量越大、越厚,其散射越强,所以在暗场下其越亮。在没有样品处,因为电子散射很少所以越暗,光路图见如图3b。虽然暗场模式下整个大视野范围内比较暗,但是样品处较亮。特别是满足布拉格衍射的区域会特别亮。这种因为衍射强度不同,而导致的明暗不同称为“衍射衬度”。这一暗场下的衍射衬度可以用来分辨样品中不同区域的晶粒。例如:厚薄均匀的样品,在明场像中A、B区域没什么差别。但是在暗场像中A区域满足布拉格方程,那么A区域明亮可见;而B区域不满足布拉格方程就暗,从而予以鉴别,如图5所示。PS:明场、暗场并非普通电镜的专利、STEM中也有明暗场之分。

 

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  图5


  HRTEM:从字面意义上很好理解,高分辨电子显微镜,顾名思义就是比普通电镜的分辨率更高一些。确实,普通的TEM只能用来看看外观,很难看到内部结构,如:晶面间距、原子排布等信息。近年来HRTEM发展迅猛,分别率已经达到原子级别(几埃,甚至零点几埃)。理论上能够看清一个一个的原子。所以HRTEM用来观测晶体内部结构、原子排布以及很多精细结构(比如位错、孪晶等)。但理论与实际总是有差距。想要从HRTEM中得到准确的材料结构信息并非易事。首先必须保证样品足够薄(弱相位近似)和Scheerzer欠焦条件下拍摄的HRTEM像才能正确反应晶体结构,如图6。很多时候还需要利用软件模拟构型,然后再与实际照片比对。

 

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  图6


  至于为什么?需要从原理开始分析。高分辨像是相位衬度像,是所有参加成像的衍射束与透射束之间因相位差而形成的干涉图像。普通TEM要么采用透射电子,要么采用散射电子。高分辨是两者都用。用的电子类别多,对样品的要求就高。那么问题来了:在高分辨像下,原子是暗的还是亮的呢?研究表明,当TEM的欠焦量最优时,HRTEM分辨率达到最高。这时,对于薄晶体,原子一般呈现暗衬度,即原子是暗的。但实际使用时,有的时候也可以是亮的(请高手指教)。


  STEM(HAADF - STEM):从成像角度来分析,其与前面两者最大的区别是:TEM和HRTEM的光照射范围是面,而STEM是一点一点的扫射,然后再收集。一个不恰当的比喻是:一个是手电筒光源,一个是激光器光源。显然激光器对结构的表征更加细致。前面已经提及STEM也有明场和暗场之分。STEM常常和HAADF连用。HAADF是一种高角环状暗场探测器。示意图如图7所示。

 

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  图7


  HAADF的作用是收集高角卢瑟福散射电子。为什么要收集高角散射电子?因为其产生的是非相关高分辨像,可避免TEM和HRTEM中复杂的衍射衬度和相干成像,从而能够直接反应原子的信息。什么时候用HAADF-STEM?最简单的回答是:当你发现TEM,HRTEM还是没法满足你的欲望的时候;当你需要看更精细的结构和更低浓度成分的时候;当你需要线扫描的时候,HAADF-STEM也是首选。例如,近年来很火的单原子催化,利用球差STEM才能够很好的表征,发现这些单原子,如图8。

 

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  图8

 

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